电子元器件做高低温试验的原因
2023-02-06 12:36:46 来源:上海荣计达仪器科技有限公司
电子元器件做高低温试验的原因:
电子元器件的故障大多是由于机体和表面的各种物理化学变化引起的,这些变化与温度密切相关。温度升高后,化学反应速度大大加快,失效过程也加快。有缺陷的部件可以及时暴露并消除。
高温筛选广泛应用于半导体器件中,可以有效剔除具有表面污染、键合不良、氧化层缺陷等失效机制的器件。通常在*高结温下储存 24 至 168 小时。
高温筛选简单、便宜,并且可以在许多组件上实施。高温储存后,可以稳定元器件的参数性能,减少使用中的参数漂移。
高低温试验箱用于筛选功率和电老化
在筛选过程中,在热电应力的综合作用下,可以很好地暴露出元器件本体和表面的多种潜在缺陷,是可靠性筛选的重要项目。
各种电子元件通常在额定功率条件下老化数小时至168小时。有些产品,如集成电路,不能随便改变条件,但可以采用高温工作方法,提高工作结温,达到高应力状态。
电源老化需要专门的测试设备,成本高,筛选时间不宜过长。民用产品通常是几个小时,高可靠性产品可以选择100、168小时,航空级部件可以选择240小时甚至更长的周期。
高低温试验箱的温度循环
电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件。在热胀冷缩的应力作用下,热匹配性能差的元件容易出现故障。温度循环筛选利用极端高温和极端低温之间的热胀冷缩应力,可有效剔除具有热性能缺陷的产品。元件常用的筛选条件为-55℃~+125℃,循环5~10次。