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电子元器件高温加速老化试验方法

2024-11-25 10:21:13 来源：上海荣计达仪器科技有限公司

电子元器件高温加速老化试验方法
一、前言：
通过提高温度应力，加速电子元器件的老化过程，在短时间内暴露其潜在缺陷，评估其在高温环境下的可靠性和稳定性，为产品的质量控制、筛选次品以及确定合理的质保期提供依据。随着电子设备对小型化、高性能、长寿命的追求，电子元器件面临着更为严苛的工作环境挑战。高温环境常常是导致元器件性能劣化、失效的重要因素之一。为了在短时间内有效评估电子元器件在长期高温使用下的可靠性，传统的常温、长时间测试方法已难以满足快速发展的工业需求。高温加速老化试验箱依据科学的加速模型，通过准确控制并提升试验温度，能够在相对较短的时间内模拟出元器件在长时间高温工况下可能出现的老化现象和潜在缺陷。
二、试验步骤
1. 将样品安装在样品夹具上，并连接好必要的测试线路（如用于监测电气性能的导线等）。
2. 将安装好样品的夹具放入高温试验箱内，合理布置热电偶或热电阻温度计，确保能准确监测样品温度。
3. 关闭试验箱门，按照设定的试验温度启动高温试验箱，开始升温过程。在升温过程中，持续监测温度变化，确保升温速率符合要求，一般控制在[具体升温速率]℃/min 以内。
4. 当试验箱内温度达到设定的试验温度后，开始计时，进入试验时间。在试验期间，定期（如每隔[X]小时）监测样品的温度以及电气性能参数（如电阻、电容值、漏电流、增益等），并记录相关数据。
5. 试验结束后，停止加热，让试验箱自然降温或按照规定的降温程序进行降温。当箱内温度降至安全范围后，取出样品。
6. 对试验后的样品再次进行外观检查、电气性能测试等全面检测，并与试验前的数据进行对比分析，判断样品是否出现失效现象以及失效的模式和数量。
三、数据记录与分析
1. 详细记录试验过程中的温度数据（包括试验箱设定温度、实际监测温度）、时间数据以及样品的电气性能数据等。
2. 根据试验数据，绘制样品电气性能随时间变化的曲线，分析其变化趋势。例如，如果电阻值随试验时间逐渐增大，可能表明样品内部存在接触不良或材料老化等问题。
3. 统计样品的失效数量和失效模式，计算失效率。失效率计算公式为：\lambda=\frac{n}{N\times t}，其中\lambda为失效率，n为失效样品数量，N为试验样品总数，t为试验时间。通过与预期的失效率或相关标准进行对比，评估电子元器件的可靠性水平。
四、试验报告
1. 试验报告应包括试验目的、试验设备、试验样品、试验条件、试验步骤、数据记录与分析结果等内容。
2. 对试验过程中出现的问题（如温度异常波动、样品失效等）进行详细描述，并分析其原因。
3. 根据试验结果，给出电子元器件是否通过高温加速老化试验的结论，以及针对产品质量控制和可靠性提升的建议。例如，如果试验发现某批次电子元器件在高温下失效率较高，建议对生产工艺进行优化或增加筛选工序等。

样品编号	试验前电阻值（Ω）	试验后电阻值（Ω）	试验时间（h）	试验温度（℃）	电气性能是否正常	失效模式
001	100.2	105.5	200	150	是	无
002	99.8	106.0	200	150	是	无
003	101.0	110.2（超出阈值）	200	150	否	电阻值漂移过大
004	98.5	104.0	200	150	是	无
005	102.5	108.0	200	150	是	无